34TM-534TM-1034TM-3034TM-50载荷容量kNlbf 5 112510 22503067505011250横梁行程mmin 1172(E1)1651(E2)46.1(E1)65.0(E2)1172(E1)1651(E2)46.1(E1)65.0(E2)1128(E1)1607(E2)44.4(E1)63.3(E2)1128(E1)1607(E2)44.4(E1)63.3(E2)垂直试验空间（A）mmin 1242(E1)1744(E2)48.9(E1)68.7(E2)1242(E1)1744(E2)48.9(E1)68.7(E2)1198(E1)1700(E2)47.2(E1)66.9(E2)1198(E1)1700(E2)47.2(E1)66.9(E2)水平试验空间（B）mmin 42016.542016.542016.542016.5最大速度mm/min in/min101640508205082050820最小速度mm/min in/min0.050.0020.050.0020.050.0020.050.002最大返回速度mm/min in/min150059610246102450820占地尺寸（长X宽X高）mm in1610x760x71063x30x281610x760x71063x30x281610x760x71063x30x281610x760x71063x30x28位置控制分辨率nmuin 19.70.789.90.395.20.203.70.14机架轴向刚度kN/mmlb/in 38217000382170007241110074422000全速时的最大力kNlbf 51125102250306750255...
保证测量准确度LEXT显微镜物镜可提供高度准确的测量数据。与智能物镜选择助手（Smart Lens Advisor）搭配使用，就可获得可靠的高精度数据。· 有保证的测量准确度*· 奥林巴斯享誉世界的光学器件能够以更低像差在整个视场中捕捉样品的真实形貌· 智能物镜选择助手（Smart Lens Advisor）还可帮助您选择合适的物镜进行粗糙度测量*本网页上包括保证的准确度在内的信息基于奥林巴斯设定的条件。简化材料工程与失效分析实验管理测试新材料时的实验条件管理具有复杂性，OLS5100激光显微镜的智能实验管理助手（Smart Experiment Manager）可通过关键步骤（如创建实验计划）自动化简化这一过程。· 提升30％的速度加快完成测量任务 *· 扫描计划随数据采集自动生成· 无需花费时间转录数据，软件为您自动完成*与OLS5000相比自动数据输入软件会自动将值添加到实验计划矩阵中，以尽可能减少输入错误的可能。只需点击几下鼠标，就可以将实验数据导出到Excel电子表格。简捷的实验条件数据管理通过点击实验计划中的每个单元格，软件即可自动生成包含评估条件的文件名，从而方便保存记录。每个文件均包含相关联的图像和数据。全方位数据采集显微镜根据软件生成的实验计划扫描样品，不会让您丢失数据或重复工作。轻松发现问题彩色 图谱可帮助您了解实验数据并验证是否存在数据丢失和错误。如果存在问题，您可以尽早发现并解决。主机型号OLS5100-SAFOLS5100-SMFOLS5100-LAFOLS5100-EAF总倍率54x–17,280x视场16 µm–5,120 µm测量原理光学系统反射式共焦激光扫描激光显微镜反射式共焦激光扫描激光-DIC显微镜...
故障分析的首选工具速度与有保证的准确度和重复性相结合，使 DSX1000 数码显微镜成为缺陷分析的首选工具。从宏观到微观 多种应对方案仅需一套系统即可同时应对初步检验和微米级分析 · 查看整张图片：20X 至 7000X 放大倍率 · 将碰撞样品的几率降至*低 · 从多角度观察您的样品一键式多种观察方法切换快速切换节省时间 · 可在任何放大倍率下使用所有观察方法 · 种观察方法一键式切换可信的结果有保证的*测量准确度和精确度 · 通过有保证的*测量**度，确保您获得可信的测量结果 · 通过现场校准确保可靠测量DSX1000 系列数码显微镜相对传统数码显微镜的 5 大优势01放大倍数范围宽、集多功能于一体的系统采用 DSX1000 数码显微镜：仅需一套易用的系统即可完成检验 采用传统数码显微镜：需要两台显微镜完成检验，一台放大倍数低，一台放大倍数高02在高放大倍率下生成高分辨率图像采用 DSX1000 数码显微镜：单个物镜具有高分辨率和长工作距离采用传统数码显微镜：分辨率随着放大倍率增加而降低03长工作距离的物镜采用 DSX1000 数码显微镜：观察不规则的样品而避免撞到它们 采用传统数码显微镜：物镜会撞到样品，可能造成损坏 04一键式多种观察方法切换采用 DSX1000 数码显微镜：可在任何放大倍率下使用所有 6 种观察方法 采用传统数码显微镜：只提供一或两种观察方法，限制了对样品的观察 05有保证的准确度和精确度采用 DSX1000 数码显微镜：在所有放大倍率下均可保证准确度和重复性采用传统数码显微镜...
舒适且使用方便BX53M利用精心设计且易于使用的控件让复杂显微镜检查任务得到简化。用户无需进行深入培训即可充分使用显微镜功能。BX53M简单、舒适的操作还可通过最大限度减少人为错误提高可重复性。· 简易照明器· 直观的显微镜控制· 快速发现焦点· 均匀一致的照明· 简便且符合人体工学的操作· 轻松恢复显微镜设置· 基本测量功能多功能BX53M保留了诸如明场、暗场、偏光和微分干涉等常规显微镜的传统对比方法。随着新材料的开发，与使用标准对比法检测缺陷相关的许多难题均可通过先进显微镜技术解决，从而可以实现更加准确和可靠的检查。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。· 让看不见的变得可见· 创建全焦点图像· 轻松移动全景载物台· 亮区和暗区均可采集· 可根据观察和分析偏好进行调整· 可适用于各种样品先进光学器件奥林巴斯开发高品质光学器件的悠久历史令其打造了久经验证的光学品质以及具有出色测量精度的显微镜。· 出色的光学性能· 稳定的色温和高强度白光LED照明· 支持精确测量· 无缝拼接从不可见到可见：MIX观察BX53M的MIX观察技术将传统照明方法与暗场照明相结合。使用MIX-插片时，其环形LED以定向暗场的方式照射样品。其效果与传统暗场类似，但却能够通过选择LED象限引导光从不同角度照射。这种定向暗场和明场、荧光或偏光的组合被称为MIX照明，其特别有助于突出缺陷并区分凸起表面与凹陷...
34SC-0.534SC-134SC-234SC-5载荷容量kNlbf 0.5 1121 2252 4505 1125横梁行程mmin 482 19.0867 34.1867 34.1868(E1), 1112(E2) 34.2(E1), 43.8(E2) 垂直试验空间（A）mmin 65125.6105041.3105041.31118(E1), 1375(E2) 44.0(E1), 54.1(E2) 水平试验空间（B）mmin 100 3.9100 3.9100 3.9100 3.9最大速度mm/minin/min 1016 401016 401016 401016 40最小速度mm/minin/min 0.05 0.0020.05 0.0020.05 0.0020.05 0.002最大返回速度mm/minin/min 150059150059150059150059占地尺寸（高 X 宽 X 深）mmin 950X460X61037X18X241370X460X61054X18X241370X460X61054X18X241420X460X61056X18X24位置控制分辨率nmuin19.10.7519.10.7519.10.7519.10.75机架轴向刚度kN/mmlb/in2114002114002114008.548500全速时的最大力kNibf0.51121225245051125满载的最大速度mm/minin/mi...
检测快捷，功能先进快速观察、测量和分析金相组织。先进的分析工具1. 采用组合观察方法获得出色图像2. 轻松生成全景图像3. 生成全聚焦图像4. 采集明亮区域和暗光区域 针对材料学的优化1. 专为材料科学而设计的软件2. 符合行业标准要求的金相分析 人性化即便新手操作员也能够轻松完成样品观察、结果分析\报告创建。1. 轻松恢复显微镜设置2. 用户指导让上等分析变得更加简单3. 高效的报告创建 先进的成像技术我们成熟可靠的光学器件和成像技术能够提供清晰的图像和可靠的检测结果。1. 可靠的光学性能：波前像差控制2. 清晰的图像：图像阴影校正3. 一致的色温：高强度白光LED照明4. **测量：自动校准 模块化根据您的应用要求选择所需的组件。1. 打造专属于您的系统：利用各种选配组件获得**定制的系统先进的分析工具GX53显微镜的各种观察功能可获得清晰锐利的图像，让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。奥林巴斯Stream图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为您提供评估样品和记录研究结果的更多选择。从不可见到可见：MIX技术MIX技术将暗场与另一种观察方法（如明场或偏振）相结合，让您能够观察传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器的定向暗场功能可在指定时间照射一个或多个象限，从而减少样品光晕，更好地观察表面纹理。轻松生成全景图像: 即时MIA通过多图像拼接(MIA)功能, 您转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接—电动载物台为选配。奥林巴斯Stream软件采用模式识别生成全景图像，特别适合用于检查渗碳和金属流动情况。生成全聚焦图像EFI奥林巴斯Stream软件的景深扩展(EFI) 功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起生成单幅的样品全聚焦图像。即便分析表面不平坦的切片样品时，EFI也能够创建全聚焦图像。E...